磁性测厚原理:当测头与覆层接触时,霍尔发现这个电位差UH与电流强度IH成正比,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,与磁感应强度B成正比,当测头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,与薄片的厚度d成反比。通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。
涡流测厚原理:利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场,无损检测资源网磁性测厚法是用来无损的测磁性金属上的非磁性覆盖层的厚度,现在有一款新型的覆层测厚仪,即覆层测厚仪,它采用的是最新的磁感技术。 也就是我们知道的霍尔效应,霍尔于1879年发现的。涡流法可无损的测量费磁性金属基体上的非导电层的厚度。通过研究霍尔电压与工作电流的关系,测量电磁铁磁尝磁导率、研究霍尔电压与磁场的关系,覆层测厚仪又叫覆层测厚仪,测膜仪,涂镀层仪,它是采用磁性测厚法和涡流法测厚原理。
覆层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型方法:
1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢\铁\银\镍.此种方法测量精度
2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。
3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵\测量精度也不高。
4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦
5.放射测厚仪:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。